Oberflächenanalytik und Materialprüfung

Welche unserer Methoden der Materialprüfung für die Lösung Ihres Problems am effektivsten ist, werden wir vorab in einem persönlichen Gespräch mit Ihnen abstimmen. Unsere Angebote werden individuell auf Ihre konkrete Fragestellung hin erstellt. Unsere Berichte liefern nicht nur reine Messwerte sondern oft auch konkrete Hinweise auf mögliche Ursachen von z.B. Verunreinigungen, Schäden oder Materialversagen.

Es stehen uns eine Vielzahl von Methoden der Materialprüfung und Werkstoffanalyse zur Verfügung, z.B.: Photo-Elektronenspektroskopie (XPS, ESCA), Infrarotspektroskopie (FT-IR), Rasterelektronenmikroskopie (REM) und Lichtmikroskopie, Atom-Absorptionsspektreoskopie (AAS), Profilometrie und vieles mehr.

Auf Wunsch können Sie auch gerne unseren Mitarbeitern bei der Materialprüfung Ihrer Probe über die Schulter schauen und somit interaktiv in die Bearbeitung eingreifen. Viele Fragen lassen sich auf diese Weise äußerst effizient und schnell beantworten.

Schadensuntersuchungen

Die eigentliche Ursache eines Schadens liegt oft in mikroskopischen Dimensionen verborgen. Die Morphologie und Charakteristik einer Fehlerstelle bei hohen Vergrößerungen liefert oft schon die nötigen Anzeichen zur Ursachenerkennung wie z.B. Einschlüssen, Wasserstoffversprödung oder Spannungsrisskorrosion. Sind ergänzende oder weiterführende Untersuchungen notwendig, so verfügen wir auch hierfür über die entsprechenden Methoden der Materialprüfung.

Betriebsüberwachung und Qualitätskontrolle

Ihre Produktion benötigt eine fortlaufende, unabhängige Kontrolle zur Qualitätssicherung? Wir bieten Ihnen hier eine auf Sie zugeschnittene Lösung. Moderne spektroskopische und analytische Methoden stehen zur Verfügung. Auf Wunsch begleiten wir Ihre Produktion auch rund um die Uhr, nehmen Proben bei Ihnen vor Ort und übermitteln Ihnen die Ergebnisse innerhalb kürzester Zeit online.

Reinheitsuntersuchungen

Durch selektive Untersuchung der chemischen Zusammensetzung können wir die Reinheit der Oberfläche ermitteln und zum Beispiel Aussagen darüber machen, ob verbotene Chemikalien (z.B. Verchromen mit Cr (VI)-Salzen) zum Einsatz kamen.

Analysemethoden

Zur Charakterisierung von Oberflächen und zur Materialanalyse

Röntgenphotoelektronen- (XPS, ESCA) und Auger-Elektronenspektroskopie

Mit diesen Methoden der Materialanalyse kann die chemische Zusammensetzung einer Probe direkt an der Oberfläche bestimmt werden. Außer der elementaren Zusammensetzung können Informationen über den chemischen Bindungszustand der vorhandenen Elemente ermittelt werden. Durch Materialabtrag mit Argonionen kann die Zusammensetzung auch in tieferen Bereichen der Probe ermittelt werden (Tiefenprofil).

Zur Bestimmung von Verbindungen

FT-IR- und UV-Vis-Spektroskopie

Mit diesen beiden Methoden kann die Anwesenheit funktioneller Gruppen an festen, flüssigen oder gasförmigen Proben bestimmt werden. Dabei kann bei der IR-Spektroskopie sowohl in Transmission als auch in Reflexion gemessen werden.

Zur Oberflächenabbildung

Lichtmikroskopie und Rasterelektronenmikroskopie (REM)

Dünnschnitt- und Dünnschliffpräparate können mit verschiedenen Mikrotomen und Ultrafräsen hergestellt werden. Zur Sichtbarmachung stehen Stereomikroskope und Lichtmikroskope ausgestattet mit Auf- und Durchlicht zur Verfügung. Für sehr hohe Auflösungen und extreme Tiefenschärfe wird ein Rasterelektronenmikroskop eingesetzt.

Zur Schichtanalyse und für Korrosionstests

Elektrochemische Methoden werden eingesetzt, um die Korrosionsbeständigkeit von Oberflächen zu ermitteln oder um Aussagen über den Deckungsgrad einer aufgebrachten Schicht zu treffen. Schichtdicken werden mit einem Profilometer ermittelt.